导电粒子金相显微镜量测着重于高度、高稳定度，品智创思销售的大行程显微镜基座采用花岗岩材质结构，为了克服环境震动问题，采用防震系统，可解决高倍率解析时的震动问题，光学系统采用高清析度影像光学模块，人性化的量测软件，长久以来，作业者需花费时间进行量测点位搜寻，使用者设计机型，使操作更便利量测更迅速。

测量显微镜工作原理如下图所示，被测工件置于工作台上，在底光或表面光照明下，它由物镜成放大像，经过分光与反射系统后，一路成像于目镜分划板上，人眼通过目镜可观察到一个放大的正像；另一路成像于彩色CCD上，摄像机摄取工件像后通过网口传送至计算机及彩色液晶显示器上，显示出一个与工件*同向的放大清晰影像。我们可以通过目镜或液晶显示器对工件像进行瞄准定位，通过数字测量系统：光栅尺与专业测量软件对测量数据进行数据处理，即光栅尺的信号与计算机主机通讯，供软件进行测量和数据处理。目视测量系统还可以利用目镜分划板上预先刻制好的标准图形对工件进行比较测量。底光照明光源与显微镜自带表面光源，视工件的性质两种照明可分别使用，也可同时使用。

微分干涉数码显微镜是一款性价比非常高的检测用光学仪器。导电粒子金相显微镜采用的远光学成像系统，内置LED高亮度照明器,引入了微分干涉显微观察功能。双目摄影观察头，体现了目视观察的真实还原，以及数码摄影与显微成像的技术融合，观察到的干涉图像具有更强的立体感，适合于非透明材质的表面形态观察，如液晶屏导电粒子的显微形态。是精密制造领域内品质检测、结构研究的仪器。 
性能特点 产品采用光学成像系统，可选择5X、10X、20X等长工作距离平场消色差无应力物镜，匹配相应的微分 干涉（DIC插板）进行不同倍率的显微观察；
照明系统采用高亮度、长工作时间的LED器件，具有结构紧凑、使用安全等特点，特别适合在线检测的环境要求；采用立柱式高度调整方式，观察样品的厚度范围更大.

何谓ACF(异方性导电胶)：其特点在于Z轴电气导通方向与XY绝缘平面的电阻特性具有明显的差异性。当Z轴导通电阻值与XY平面绝缘电阻值的差异超过一定比值后，既可称为良好的导电异方性。
        贴合工艺：导电粒子在黏合剂中均匀分布,互不接触,加之有一层绝缘膜,ACF 膜是不导电的,当对ACF膜加压、加热后导电粒子绝缘膜破裂,并互相在有线路的部分(因为较无线路部分突起) 挤压在一起,形成导通,被挤压后的导电粒子体积是原来的3～4 倍(导电粒子体积不变，差别在于原本是球体状，经过热压后变成类似圆饼状，让上下电极有更多的面积接触到导电粒子),加热使黏合剂固化,保持导通状态。
        注意点：导电粒子的粒径分布和分布均匀性亦会对异方导电特性有所影响。通常，导电粒子必须具有良好的粒径均一性和真圆度，以确保电极与导电粒子间的接触面积一致，维持相同的导通电阻，并同时避免部分电极未接触到导电粒子，导致开路的情形发生。常见的粒径范围在3~5μm之间，太大的导电粒子会降低每个电极接触的粒子数，同时也容易造成相邻电极导电粒子接触而短路的情形；太小的导电粒子容易行成粒子聚集的问题，造成粒子分布密度不平均。

         在这边要先说明何谓微分干涉差系统：用四个特殊的光学组件：偏振器、DIC棱镜、DIC滑行器和检偏器。偏振器直接装在聚光系统的前面，使光线发生线性偏振。在聚光器中则安装了石英Wollaston棱镜，即DIC棱镜，此棱镜可将一束光分解成偏振方向不同的两束光（x和y），二者成一小夹角。聚光器将两束光调整成与显微镜光轴平行的方向。初两束光相位一致，在穿过标本相邻的区域后，由于标本的厚度和折射率不同，引起了两束光发生了光程差。在物镜的后焦面处安装了第二个Wollaston棱镜，即DIC滑行器，它把两束光波合并成一束。这时两束光的偏振面（x和y）仍然存在。后光束穿过第二个偏振装置，即检偏器。在光束形成目镜DIC影像之前，检偏器与偏光器的方向成直角。检偏器将两束垂直的光波组合成具有相同偏振面的两束光，从而使二者发生干涉。x和y波的光程差决定着透光的多少。光程差值为0时，没有光穿过检偏器；光程差值等于波长一半时，穿过的光达到大值。于是在灰色的背景上，标本结构呈现出亮暗差。为了使影像的反差达到状态，可通过调节DIC滑行器的纵行微调来改变光程差，光程差可改变影像的亮度。调节DIC滑行器可使标本的细微结构呈现出正或负的投影形象，通常是一侧亮，而另一侧暗，这便造成了标本的人为三维立体感，类似大理石上的浮雕。