产品名称：导电粒子显微镜
产品型号：PZ-JTM-5040H
产品简介：主要用于LCD、PDP、PCB等相关的光电产业，为其研发、制造提供所需的检测设备。具有观察OLB压接粒子分布、液晶板表面贴附的异物、液晶板划伤情况、测量导电粒子大小、数量等功能
产品特点：
导电粒子显微镜是一种兼顾影像与目视两用的高精度、率测量仪器。它具有电视成像与目视光学两套瞄准系统，是集光、机、电、算、影像于一体的测量型金相显微镜。该仪器用于电子组件、精密模具、精密刀具、塑料、PCB加工等方面，不仅可用作坐标测量，还可以目镜标准分划板作显微放大比较测量，测量螺纹的节距、外径、牙角等工件尺寸或外形轮廓，ACF导电粒子形状和瑕疵观察，除应用于长度、角度测量外，还可作为观察显微镜。是机械、电子、仪表、钟表、轻工、塑料行业，院校、研究所和计量检定部门的计量室、实验室已经生产车间计量检测设备之一。
1. 符合人机工程学设计准则方便操作测量
2. 工作台一键式气动单手快速移动操作
3. 可实现Z轴自动对焦
4. 具有偏光和DIC检测功能
5. 采用被动式减震装置，提高整机精度稳定性
6. 测量软件，高清晰1/2"彩色摄像机
7. 可通过激光指示器寻找被测工件的具体位置，可适应复杂工件的测量
8. 可实现高度辅助测量
9. Z轴光栅尺分辨力为0.1μm
10. 同轴光/底光测量
11. 可搭配白光纳米检测模块测量纳米级厚度
规格参数：
规格型号 | JTM-5040H | |||||
工作台 | 玻璃台尺寸（mm） | 570*470 | ||||
运动行程（mm） | 500* 400 | |||||
Z轴电动升降行程(mm) | 200 | |||||
光栅尺分辨力(μm) | 0.1μm | |||||
X、Y坐标示值误差(μm) | 2.5+ L/75 (L为测量长度，单位mm) | |||||
影像系统 | 彩色1/2”CCD摄色机：；结合测量软件QMS3D-M | |||||
显微镜系统 | 三目头 目镜：10倍 滤光片：黄、绿、蓝、白 量测模式：反射，透射，偏光 5孔物镜转换镜 | |||||
照明系统 | 透射照明光源：白光LED，亮度可调 同轴照明光源：12V 100W卤素灯，亮度可调 | |||||
物镜 | ||||||
倍率 | 5X | 10X | 20X | 50X | ||
工作距离 (mm) | 18.0 | 15.0 | 4.5 | 11.0 | ||
总放大倍率 | 目视 | 50X | 100X | 200X | 500X | |
19寸视频 | 301.625X | 603.25X | 1206.5X | 3016.25X | ||
高度量测模块 （选配件） | 白光干涉高度测量模块(M10-CA),高度量测分辨率0.5 μm (选配):倍率10X，工作距离5mm，光学分辨力2um | |||||
其他参数 | ||||||
外形尺寸 (mm) | 1270*1150*1860 | |||||
仪器重量 (kg) | 850 | |||||
电源功耗 | ~220V 50/60Hz < 60W(不包含计算机) | |||||
010-87681080
010-87681080
