芯片检测仪器

芯片检测影像测量仪可以测量十五种几何元素（点,直线,平面,圆,圆弧,椭圆,矩形,键槽,圆环,圆柱,圆锥,球,开曲线,闭曲线,焦面,角度和距离），并且可以测量高度,也可以预置基本几何元素。根据实际测量需求可以选择接触式测量---探针测量，也可以选择非接触式测量---影像和激光位移器测量。多种测量方法: 智能寻边,整体采点,多段采点,鼠标采点,邻近采点,十字线采点,放大采点,对比采点。

每种芯片产量少则几千件，多则上万件。所有的芯片需要全检，并根据不同的尺寸公差，将产品分成优、良、差三个等级。客户以往的工作方式是采用芯片检测影像测量仪，一个一个进行人工操作测量分级，这对客户来说无疑是巨大的工作量。面对与日俱增的工作量，对检测及分拣自动化提出了要求。

自动软件自动影像加探针和激光位移器测量应用软件，可以对二维测量的坐标进行可视化分析处理和检测，也可以使用探针进行三维几何元素测量,也可以用激光位移器测量平面度和高度。应用于各种精密制造业，如手机组件,模具,电子,通信,机械,五金,塑料,仪表,钟表,PCB,LCD等行业。可测量的材料包括金属,塑料,橡胶,玻璃,PCB,陶瓷等;

芯片检测影像测量仪技术参数：