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更新时间:2026-04-07
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BGA植球后的共面性是指所有焊球顶点所在平面与器件本体参考平面之间的平行度,通常以最高焊球与焊球的高度差来度量。共面性不良是导致BGA焊接开路、虚焊的常见原因。了解并执行正确的检测标准,是确保BGA组装可靠性的关键前提。
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检测方法与精度要求
共面性检测通常采用激光共面性扫描仪或光学投影仪。检测原理是:将BGA器件放置在平整的参考平台上,焊球朝上,用激光或光学系统扫描所有焊球的顶点高度,计算最大值与最小值的差值。检测时需注意以下要点:
基准面选择:应以器件本体的底面为参考,而非以载带或包装面为参考。因为实际贴装时,器件底面与PCB平行。
测量点数量:应测量所有焊球,而非抽样。对于大型BGA,可能有数百甚至上千个焊球,每个焊球的高度都需记录。
环境控制:温度变化会影响测量精度,检测应在恒温环境下(23±2℃)进行。


植球工艺对共面性的影响
植球返修后的共面性受多个因素影响:
焊球尺寸一致性:采购的焊球本身有直径公差,通常±10μm。应选用同一批次、同一品牌的焊球,并抽样测量其直径分布。
植球钢网质量:钢网开孔位置精度直接影响焊球落位。开孔偏移会导致焊球不在焊盘中心,间接影响共面性。钢网厚度也影响焊球植入深度。
回流焊接过程:植球后的回流温度曲线影响焊球的熔化形态。温度过高或时间过长,焊球过度塌陷,高度降低;温度不足,焊球未熔化,形状不圆,高度不一。
助焊剂残留:植球助焊剂涂覆不均,会导致部分焊球润湿不良,高度异常。

