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技术文章
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芯片针脚平整度测量仪 智能化分析
2025-07-23
针脚平整度检测的重要性在半导体封装及高密度电子制造领域，芯片焊接针脚的平整度至关重要，它直接影响到产品的电气性能和长期使用的可靠性。随着芯片集成度的不断提高，针脚的尺寸不断缩小，这也就对检测设备在精度、效率和抗干扰能力方面提出了更为严苛的挑战。针脚的平整度对半导体芯片的电气性能和可靠性有重要影响，特别是在集成度不断提高的情况下，对检测设备提出了高精度要求。设备的突出性能与优势半导体芯片引脚测试仪，以其出色的性能在半导体封装领域脱颖而出。这款仪器能够高效、精准地检测芯片焊接针脚...
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数码超景深显微系统简介
2025-07-22
三维超景深显微镜系统的核心优势在于其高分辨率和高对比度的成像能力。这使得科研工作者能够详细观察样本的表面形貌和内部结构，从而获取更为准确的数据和信息。同时，该系统还配备了自动对焦功能，能够快速准确地捕捉到不同深度的清晰图像，极大地提高了观察的效率和准确性。在实际应用中，三维超景深显微镜系统在多个方面展现出其强大的功能。例如，在细胞生物学研究中，它可以用于观察细胞的结构和功能，为解析细胞生长、发育和变化过程提供有力支持。在医学领域，该系统可用于组织切片的观察和分析，为疾病诊断和...
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三维超景深显微镜系统
2025-07-21
三维超景深显微镜系统的核心优势在于其高分辨率和高对比度的成像能力。这使得科研工作者能够详细观察样本的表面形貌和内部结构，从而获取更为准确的数据和信息。同时，该系统还配备了自动对焦功能，能够快速准确地捕捉到不同深度的清晰图像，极大地提高了观察的效率和准确性。在实际应用中，三维超景深显微镜系统在多个方面展现出其强大的功能。例如，在细胞生物学研究中，它可以用于观察细胞的结构和功能，为解析细胞生长、发育和变化过程提供有力支持。在医学领域，该系统可用于组织切片的观察和分析，为疾病诊断和...
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温度变化对轴类测量仪的影响
2025-07-18
在精密测量领域，轴类测量仪作为把控轴类零件质量的关键设备，其测量精度直接关乎产品的性能与可靠性。而温度，这个看似平常的环境因素，却对轴类测量仪有着极为显著的影响，深入了解其中缘由，对于保障精密测量的准确性至关重要。从物理特性层面来看，轴类测量仪自身的材料具有热胀冷缩的性质。无论是仪器的金属外壳、内部的机械传动部件如导轨、丝杆，还是光学系统中的镜片座等，当环境温度发生变化时，这些部件都会随之膨胀或收缩。以高精度的轴类测量仪导轨为例，在温度升高时，导轨可能会沿长度方向伸长，微小的...
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超景深显微镜常见问题解答
2025-07-17
超景深显微镜，一种具备连续变倍功能的光学显微镜，以其大景深特性著称。在其广阔的景深范围内，检测对象均可呈现清晰可见，从而扩大了检测视域，延长了工作距离，并支持3D测量功能。这款高科技产品融合了光学技术、光电转换技术以及电子显示技术，不仅能为微小物体提供高质量的放大效果，形成立体感强的清晰正像，还广泛应用于微生物观察（如微生物多样性测序）、半导体质量监控等多个领域。其清晰范围广泛，且操作简便，是科研与工业生产中的得力助手。工作原理超景深显微镜的工作原理基于数字显微镜技术。它利用...
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全自动3D影像测量仪操作流程与注意事项
2025-07-17
一、全自动3D影像测量仪操作流程环境准备与设备检查环境要求：确保测量环境稳定，温度控制在20-25℃，湿度50%-60%RH，避免振动、强光直射或温度波动。设备检查：开机前检查设备各部件(如镜头、光源、传动系统)是否清洁无污染，连接是否牢固，确保无尘埃或油污附着。开机与自检开机顺序：先开启仪器电源，待自检程序完成(通常需5分钟预热)，再启动计算机及测量软件。系统校准：使用标准校准块对设备进行像素、长度、角度等校准，确保测量基准准确。建议每3个月全面校准一次。工件放置与固定平稳...
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碳材料接触角的测试方法
2025-07-10
一、静态接触角测量静态接触角测量是一种简单易行的测试方法，常用于研究表面润湿性。其测试原理是通过测量液滴在材料表面的接触角，来判断材料表面的润湿性能。1.测试液体的选择选择合适的测试液体是静态接触角测量的关键。一般来说，测试液体的极性应该与材料表面的极性相近。例如，如果要测试碳材料的润湿性能，可以选择乙醇、水、二甲基甲酰胺等极性较强的液体。2.仪器的选择静态接触角测量一般使用接触角仪进行测量。接触角仪由光源、显微镜、图像处理系统、控制系统等组成。3.实验步骤（1）将测试液体滴...
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平面度测量仪常见的几种测量方式
2025-07-02
平面度，是属于形位公差中的一种，指物体表面具有的宏观凹凸高度相对理想平面的偏差。平面度误差是将被测实际表面与理想平面进行比较，两者之间的线值距离即为平面度误差值；或通过测量实际表面上若干点的相对高度差，再换算以线值表示的平面度误差值。在传统的检测方法中，平面度的测量通常有：塞规/塞尺测量法、液平面法、激光平面干涉仪测量法（平晶干涉法）、水平仪/数字水平仪测量法、以及打表测量法。塞尺测量法塞尺主要用于间隙间距的测量，对平面度的测量只能进行粗测。塞尺使用前必须先清除塞尺和工件上的...
