IC引脚共面性测试仪测量IC芯片虚焊的隐患

IC引脚共面性测试仪是用于检测芯片引脚、焊球是否处于同一平面的精密光学测量设备，主要用在半导体封装、3C电子、汽车电子等领域，目的是防止因引脚高度差导致虚焊、短路或接触不良。

主要功能

检测引脚共面度、正位度、间距、宽度、高度等几何参数

自动识别引脚数量及不对称引脚

用户可自定义公差范围，系统自动判断合格/不良

支持数据导出Excel、对接MES系统、SPC统计

自动分选不良品，实现批量检测

BGA共面性测试仪产品应用

广泛应用于晶元、芯片（DIP、SOP、QFP、QFN、BGA、LGA、PGA）等共面性检测，机械制造、电子、汽车、五金、塑料、模具等行业，可以对工件尺寸、形状和位置公差进行精密检测，从而完成自动拾取、自动分选、零件检测、外形测量、过程控制等任务。