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PRODUCTS CNTEROLED模组影像测量仪我公司的影像加探针和激光位移器测量应用仪器,可以对二维测量的坐标进行可视化分析处理和检测,也可以使用探针进行三维几何元素测量,也可以用激光位移器测量平面度和高度。应用于各种精密制造业,如手机组件,模具,电子,通信,机械,五金,塑料,仪表,钟表,PCB,LCD等行业。可测量的材料包括金属,塑料,橡胶,玻璃,PCB,陶瓷等;
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OLED模组影像测量仪检测要求:
2D平面尺寸的测量,高效
1. CG、Pannel——2D尺寸,例如长度、宽度、扬声器孔和位置、摄像头孔尺寸和位置、Home键尺寸和位置、四角轮廓等等;
2. FPC——排线的线路线宽、线距;上面所有的PIN的间距和位置;任何接插连接的socket的中的针脚的位置和宽度等;FPC上很多的圆槽和定位孔的尺寸;
3. BLU和CG粘合的相对位置的确认;
以上这些尺寸都是2D测量里基本的要求,采用光学影像(同轴光、底光、环光),即可高精度高效率的测量。
外壳匹配测量,复合式传感技术灵活应对3D尺寸
1. 解决LCM和housing 的配合问题,就需要对外壳的内轮廓尺寸,以及定位孔尺寸进行测量,由于金属外壳的加工过程使得产品边缘有倒角,如果单纯用光学测量的话有时候造成较大的误差,目前在几大电子产品代工厂都在用接触的方式测量外壳和屏幕的配合尺寸,包括外壳上表面或者侧面的尺寸。
2. 高度测量
采用大倍率镜头对微小台阶进行高度测量,方法是在两个不同高度的表面进行聚焦,得到Z1和Z2两个高度,两者之差就位台阶的高度。
3. 高度方向的扫描
采用白光测头测量,Z向精度可以达到0.3um,可以测量屏幕表面的平面度、尤其可以测量镜面材料的表面形貌;
采用扫描方式测量,可以快速测量棒的高度。
OLED模组影像测量仪产品参数:
u 变焦镜筒:采用光学变焦物镜,光学放大倍率0.7X~4.5X,视频总放大倍率40X~400X连续可调,物方视场:10.6-1.6mm,按客户要求选配不同倍率物镜。
u 摄像机:配备低照度SONY机芯1/3′彩色CCD摄像机,图像表面纹理清晰,轮廓层次分明,保证拥有高品质的测量画面。可以升级选配1/2′CMOS130万像素摄像机。
u 底座:仪器底座采用高精度天然花岗石,稳定性高,硬度高,不易变形。
u 光栅尺:仪器平台带有高精度光栅尺(X,Y,Z三轴),解析度为0.001mm。Z轴通过二次聚焦可实现对沟槽、盲孔的深度进行测量。
u 光源:采用长寿命LED环形冷光源(表面光及底光),使工件表面照明均匀,边缘清晰,亮度可调。
u 导轨:双层工作平台设计,配备高精度滚动导轨,精度高,移动平稳轻松。
u 丝杆:X,Y轴工作台均使用无牙光杆摩擦传动,避免了丝杆传动的间隙,灵敏度大大提高,亦可切换快速移动,提高工作效率。