半导体高倍测金相量显微镜

品智创思半导体高倍测金相量显微镜是为检测微波器件封装、电子陶瓷封装芯片、光通讯器件、TO封装、蝶形封装激光器、集成外腔半导体激光器、晶振封装、滤波器封装、集成电路封装等有较高腔体产品检测专业打造的，填补高倍率、高工作距离这一双高检测金相显微镜领域市场发展空白。

不同于传统的金相显微镜，品智创思APO长工金相显微镜选择了紧凑的结构设计，外观小巧轻便，操作更为灵活。95mm焦距物镜超长工作距离，克服了常规金相显微镜无法观察较高台阶半导体的限制。集成了明场、偏光、DIC微分干涉等多种观察功能，是理想的检测半导体器件的工具。

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产品特点：

所有光学部件均经过特殊处理并镀有特殊膜层

灵活紧凑的结构，适应各种环境下的显微观察

长工作距专业金相物镜，高倍物镜采用半复消技术

各种观察方法下都能得到清晰锐利与高对比度的显微图像

半导体高倍测金相量显微镜集成多种观察方式及专业的金相显微技术，灵活精巧的设计使金相系统成为可安装于大型机械设备中的专业金相显微镜。可作为大尺寸LCD面板、半导体器件、集成线路（IC）、晶圆（Wafer）、微机电系统（MEMS）或PCD线路板生产设备或检测设备的视觉系统。通过摄影摄像接口，可将图像输出至监视器或计算机方便快速检测。

多

种观察方式及专业的金相显微技术，灵活精巧的设计使金相系统成为可安装于大型机械设备中的专业金相显微镜。可作为大尺寸LCD面板、半导体器件、集成线路（IC）、晶圆（Wafer）、微机电系统（MEMS）或PCD线路板生产设备或检测设备的视觉系统。通过摄影摄像接口，可将图像输出至监视器或计算机方便快速检测。

 测试效果：