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产品型号:PZ-30LS
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非接触式检测粗糙度仪 售后无忧采用多孔共聚焦技术,结合ccd的影像摄取,以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞,再将物镜垂直移动,以类似断层摄影方式,可在短时间(约几秒)内量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式,不会破坏样品的表面,不需要在真空环境下测量,也可以用共聚焦显微镜测量的功能来观测样本,其在严酷的工作环境下,也能正常使用。
产品型号:PZ-30LS
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非接触表面粗糙度检测仪 建立3D立体影像采用多孔共聚焦技术,结合ccd的影像摄取,以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞,再将物镜垂直移动,以类似断层摄影方式,可在短时间(约几秒)内量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式,不会破坏样品的表面,不需要在真空环境下测量,也可以用共聚焦显微镜测量的功能来观测样本,其在严酷的工作环境下,也能正常使用。
产品型号:PZ-30LS
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非接触式表面轮廓粗糙度测量仪是一种通过彩色激光光源发射出一束高密度宽光谱光,通过色散镜头后,在量程范围内形成不同波长的单色光,每个波长对应一个距离值。测量光射到物体表面反射回来,只有满足共聚焦条件的光,可以通过小孔被光谱仪感测到它被广泛应用在各种不同的精密产业中如油墨厚度测量,MLCC厚度测量,厚膜电路测量,银浆厚度测量,激光刻蚀测量,涂胶厚度测量,半导体
产品型号:PZ-30LS
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非接触式粗糙度测试仪 PZ-30LS是一种通过彩色激光光源发射出一束高密度宽光谱光,通过色散镜头后,在量程范围内形成不同波长的单色光,每个波长对应一个距离值。测量光射到物体表面反射回来,只有满足共聚焦条件的光,可以通过小孔被光谱仪感测到它被广泛应用在各种不同的精密产业中如油墨厚度测量,MLCC厚度测量,厚膜电路测量,银浆厚度测量,激光刻蚀测量,涂胶厚度测量,半导体、
产品型号:
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非接触粗糙度测量仪主要应用于:油墨厚度测量,MLCC厚度测量,厚膜电路测量,银浆厚度测量,激光刻蚀测量,涂胶厚度测量,半导体、特种材料表面粗糙度测量等。
产品型号:PZ-30LS
浏览量:2091